TY  - RPRT
TI  - Overview of the multiple biometrics grand challenge 
AU  - Phillips, P J
AU  - Sahibzada, H A
AU  - Flynn, Patrick J
AU  - Bowyer, K W
AU  - O'Toole, A
AU  - Weimer, S
AU  - Beveridge, J R
AU  - Draper, B
AU  - Bolme, D
AU  - Givens, G H
AU  - Lui, Y M
AU  - Scallan, J A
AU  - Scruggs, W T
PY  - 2009
PB  - National Institute of Standards and Technology
CY  - Gaithersburg, MD
SN  - NIST IR 7607
DO  - 10.6028/NIST.IR.7607
ER  -